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高功率激光集成式分析儀 BeamWatch Integrated 在BeamWatch 基礎(chǔ)上，在特定位置集成了功率探頭，可以實(shí)時(shí)在線測(cè)量激光的焦點(diǎn)分布和功率。BeamWatch Integrated 分為150/ 500連個(gè)型號(hào)，功率探頭距離焦點(diǎn)的距離分別為150mm和175mm。

增材制造專用激光焦點(diǎn)分析系統(tǒng) BeamWatch AM 是一款集成的激光測(cè)量系統(tǒng)，用于測(cè)量激光增材制造系統(tǒng)的關(guān)鍵激光束參數(shù)。包括腰( 焦點(diǎn)) 寬度和位置、焦點(diǎn)變化、重心、M2、瑞利長(zhǎng)度、傾角等。

增材制造專用激光分析系統(tǒng) 集成CCD 光束分析儀直接探測(cè)高功率激光的光斑，以及一臺(tái)功率計(jì)用于實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)測(cè)量激光的功率。特殊的分束系統(tǒng)使其可以直接用于高功率激光，極小部分功率被分配給光束分析儀進(jìn)行光斑分析

非接觸式大功率激光焦點(diǎn)分析儀 OPHIR*的BeamWatch 非接觸式輪廓分析儀通過(guò)測(cè)量瑞利散射，精確捕獲和分析波長(zhǎng)范圍為980nm - 1080nm 的高功率工業(yè)激光。

激光全自動(dòng)M2分析儀 BeamSquared 包含自動(dòng)衰減器、束腰生成鏡、反射鏡和相機(jī)四大部分。精密準(zhǔn)直的雙程直線掃描光路提供在較短空間內(nèi)的長(zhǎng)行程快速掃描，配合不同的透鏡、探測(cè)器覆蓋寬范圍的波段。

狹縫掃描光束分析儀NanoScan 2， 源自2010 年加入OPHIR 集團(tuán)的PHOTON INC。PHOTON INC 自1984 年開始研發(fā)生產(chǎn)掃描式光束分析儀，在光通訊、LD/LED 測(cè)試等領(lǐng)域享有盛名。掃描式與相機(jī)式光斑分析儀的互補(bǔ)聯(lián)合使得OPHIR可提供完備的光束分析解決方案